814
浏览一种通信设备机内测试系统的软件设计
摘要:相较于传统的通过外部测试仪器对设备进行离线测试,机内测试(BIT)能够在设备内部进行故障检测,并将故障定位到外场或内场可更换单元,进而快速地完成对故障单元的更换,保障装备的作战能力。本文从机内测试的角度设计了一种应用于通信设备故障诊断的机内测试系统的软件,该软件平台通过软件界面的参数设置对硬件被测电路发送测试命令控制硬件执行测试任务,能够对硬件电路返回的测试数据进行收集分析处理,实现对模拟信号参数测量与数字电路边界扫描测试。论文在需求分析基础上给出软件整体方案设计,然后分章节详细介绍了各个功能模块的设计实现过程。论文的主要研究内容如下:1.模拟BIT电路的信号参数测量及显示。该部分包括对射频模块、中频模块、低频模块的参数测量,针对不同测量对象、不同测试模式,机内测试系统软件设计了模拟BIT各类型控制命令及参数,实现了对射频信号的频率、功率参数的大量程测量,中频FM、AM信号的调制参数测量,以及8通道低频信号参数测量。同时,根据用户设定允许范围,对测量结果进行判决和下发。2.数字BIT集成电路边界扫描测试功能。通过对边界扫描技术研究,以及对集成电路器件BSDL文件、PCB电路网表文件规范的分析与处理的基础上,软件实现了被测电路边界扫描信息与网络连接关系提取,进而获得电路板可测网络,以及测试矢量与构建边界扫描链路的自动生成等任务,应用层通过发送数字BIT控制命令,快速实现数字集成电路的故障测试及诊断功能。3.机内测试系统的软件界面设计。根据测试需求设计仪器界面控制界面,通过用户操作生成对应BIT控制命令控制被测电路执行测试任务,以及模拟BIT测试结果、数字BIT测试结果的实时显示,实现了良好的人机交互功能。本设计的通信设备机内测试系统软件在硬件平台上进行了程序调试与功能验证,各个功能模块均可正确、有效工作,达到了设计的预期效果。
关键词:机内测试;通讯设备
文章目录
摘要
abstract
第一章 绪论
1.1 选题背景及研究意义
1.2 国内外技术研究现状
1.2.1 BIT技术发展现状
1.2.2 边界扫描技术发展现状
1.3 论文主要研究内容及章节安排
第二章 机内测试系统总体方案设计
2.1 机内测试系统硬件平台介绍
2.2 机内测试系统软件需求分析
2.2.1 测试数据处理需求分析
2.2.2 数字BIT集成电路边界扫描测试需求分析
2.2.3 模拟BIT电路的信号参数测量需求分析
2.2.4 仪器控制命令需求分析
2.3 机内测试系统软件方案设计
2.3.1 软件功能模块划分
2.3.2 软件测试流程
2.3.3 多线程设计
2.3.4 软件界面总体布局
2.4 本章小结
第三章 数字BIT集成电路边界扫描测试设计
3.1 边界扫描测试技术的基本原理
3.2 数字BIT集成电路测试整体方案设计
3.3 BSDL文件信息的提取与处理
3.3.1 BSDL文件简介
3.3.2 BSDL文件处理
3.4 网表文件信息的提取与处理
3.4.1 网表文件简介
3.4.2 网表文件处理
3.5 构建边界扫描链路
3.6 生成互联测试矢量
3.7 测试故障分析
3.8 本章小结
第四章 模拟BIT电路的信号参数测量设计
4.1 低频BIT电路的信号参数测量
4.1.1 低频BIT电路的交流电压测量
4.1.2 低频BIT电路的直流电压测量
4.2 射频BIT电路的频率、功率测量
4.3 中频BIT电路的信号调制参数测量
4.3.1 中频AM信号的调制参数测量
4.3.2 中频FM信号的调制参数测量
4.4 本章小结
第五章 机内测试系统软件设计
5.1 软件界面功能模块设计
5.1.1 测量/测试数据接收处理
5.1.2 线程通信
5.1.3 仪器控制命令设计
5.1.4 软件界面设计
5.2 仪器远程数据传输控制
5.3 本章小结
第六章 机内测试系统软件测试与验证
6.1 实验环境介绍
6.2 射频BITE功能验证
6.3 中频BITE功能验证
6.4 模频BITE功能验证
6.5 数字BITE功能验证
6.6 本章小结
第七章 总结与展望
致谢
参考文献
[1]通信系统中射频功率测量的应用[J]. 苗亮. 计算机产品与流通. 2019(02)
[2]构建Windows环境下Python GUI网络编程实验环境[J]. 刘海燕,马振涛. 北华航天工业学院学报. 2018(04)
[3]Python网络编程研究[J]. 叶锋. 电脑编程技巧与维护. 2016(21)
[4]AM信号正交解调方法的性能分析[J]. 张勇,许忆南. 电子世界. 2013(13)
[5]边界扫描测试技术发展综述[J]. 刘九洲,王健. 电光与控制. 2013(02)
[6]BIT设计与发展综述[J]. 董今朝,谢永成,李光升,魏宁. 微型机与应用. 2012(21)
[7]基于贝叶斯信息融合的解析余度辅助机内测试决策[J]. 池程芝,章卫国,刘小雄. 控制与决策. 2012(10)
[8]基于信息熵的机内测试诊断策略优化技术[J]. 张陟,王伟平,李宇. 计算机测量与控制. 2012(07)
[9]电子元器件封装技术发展趋势[J]. 黄庆红. 电子与封装. 2010(06)
[10]嵌入式计算机的BIT设计与实现[J]. 刘少雄,喻卫东. 计算机工程. 2008(S1)